Yarı iletken kristallerin optik özelliklerinin incelenmesi

dc.contributor.advisorUlubey, Aydın
dc.contributor.authorDurmuş, Ufuk
dc.date.accessioned2014-05-05T12:41:28Z
dc.date.available2014-05-05T12:41:28Z
dc.date.issued2009
dc.departmentEnstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalıen_US
dc.descriptionYüksek Lisans Tezitr
dc.description.abstractYarıiletkenler bilim ve teknoloji için oldukça önemlidir. Çeşitli alanlarda geniş uygulama potansiyeline sahiptirler. GaSe, GaS ve onların GaSxSe1-x katı çözeltilerinin fiziksel özellikleri, optoelektronik cihazlarındaki uygulamaları sebebiyle, temel bilimler ve teknoloji açısından oldukça önemlidir. Kimyasal maddeleri analiz etmek için foto-algılayıcılar gereklidir. Bu algılayıcılar, geniş aralıklı III-VI yarıiletken bileşimlerinin; karışım kristallerinden yapılır. Bu çalışmada tabakalı ve GaSxSe1-x kristallerinin kristal yapısı, optiksel özellikleri, görünür ve kızılötesi spektrum aralığında incelendi. Görünür bölge kenar ölçümleri, Konfokal Raman Mikrospektroskopisi yöntemi ile gerçekleştirildi. İncelemeler sonucunda, GaS, GaSe ve GaSe0.8S0.2 bileşiklerinin Raman Spektropisi ve X Işını Spektroskopisi teknikleri ile atom dizilimleri ve atomlardan yayılan fotonların enerji tabloları oluşturulmuştur. Anahtar Kelimeler: Yarıiletken, Geçirme, Soğurma, Fonon, Görünür ve Kızılötesi Spektroskopisi, X Işın Spektroskopisi, Raman Saçılması, Konfokal Raman Mikrospektroskopisien_US
dc.description.abstractSemiconductors have large importance for science and technology. They have wide application potential for several areas. The physical properties of GaSe, GaS and their GaSxSe1-x solid solutions are significant for basic sciences and technology because of their applications in optoelectronic devices. Photo-detectors are necessary to analyze chemical matters. These detectors are made of the mixed crystals of these crystals. In this work the crystal structure and optical characteristics of the strata and GaSxSe1-x crystals were examined in the integral of visible and infrared spectrum. The edge measurements of visible area were realized via the method of Confocal Raman Microspectroscopy. Thanks to researchs and experiments the energy tables of the photons which spread from atoms and atom sequences are drawn by means of the Raman Spectroscopy of Ga, GaS, GaSe ve GaSe0.8S0.2 compounds and X light spectroscopy techniques. Key Words: Semiconductor, Transmission, Absorption, Phonon, Visible and IR Spectroscopy, Raman scattering, Space Symmetry Group, Confocal Raman Microspectroscopyen_US
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14551/732
dc.identifier.yoktezid245423en_US
dc.language.isotren_US
dc.publisherTrakya Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğien_US
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.subjectYarı İletken Kristalleren_US
dc.subjectSemiconductor Crystalsen_US
dc.titleYarı iletken kristallerin optik özelliklerinin incelenmesien_US
dc.title.alternativeInvestigation of optical properties of semiconductorsen_US
dc.typeMaster Thesisen_US
dc.type.descriptionNo: 0042570en_US

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
İsim:
0073789.pdf
Boyut:
2.65 MB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Açıklama:
Lisans paketi
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Küçük Resim Yok
İsim:
license.txt
Boyut:
1.71 KB
Biçim:
Item-specific license agreed upon to submission
Açıklama: