Erdem, AytekinAkbaş, Hasan2024-06-112024-06-111987https://tez.yok.gov.tr/UlusalTezMerkezi/TezGoster?key=p911s0iMPy2wtZbYYckXOanvvVozQ40UZ-UI7U4L9pdU6voY2qCWo44pfm9BJKmDhttps://hdl.handle.net/20.500.14551/9429Yüksek LisansÖZET Bu çalışmanın amacı fotciletkenlik ölçüleri için yara-iletken kristal numunelerin nasırlanma sı ve hazırlanan numunelerin I-V karakteristikle rinin incelenmesidir* Kristaller yarı-iletken teknolojisinde kulla-» nılan araç ve gereçlerle kesildiler*, Mekanik yön temlerle parlatıldılar.. Kicyasaİ (etch.) olarak aşındı rıldıl ar. Hazırlanan numunelere uygun kontakt* lar konuldu* Numunelerin i-v karakteristikleri çimilerek kontaktlarm durumları incelendi»[Abstract Not Available]trinfo:eu-repo/semantics/openAccessFizik ve Fizik MühendisliğiPhysics and Physics EngineeringFoto-iletkenlik ölçüleri için uygun silisyum numunelerin hazırlanmasıMaster Thesis1571353